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“日置3504-60/3504-50/3504-40电容测试仪”参数说明
| 认证： | CE | 元器件种类： | 电子元件测试仪 |
| 型号： | 3504-60/3504-50/3504 | 规格： | C测试仪 |
| 商标： | HIOKI | 包装： | 纸箱 |
| 体积： | 260W × 100H × 220Dmm | 显示： | 发光二级管 （6位表示，满量程计算器根据量程而定） |
| 测量频率： | 120Hz, 1kHz | 基本精度： | ±0.09% rdg. ±10 dgt |
| 重量： | 3.8KG | 附件： | 电源线×1，预备电源保险丝×1，使用说明书×1 |
| 功能： | BIN分类测量 (3504-40除外), | 测量参数： | Cs,Cp（电容）,D（损耗系数tanδ） |
| 测量量程： | 0.9400pF～20.0000mF | 测量时间： | 2.0 ms （ 1 kHz, FAST） |
“日置3504-60/3504-50/3504-40电容测试仪”详细介绍
深圳市温德尔科技有限公司欢迎您咨询价格，热线0755-2930482713699821085www.szwinder.com产品概要：封装机、分选机、电容器的合格与否的判断和等级分类等高速测量2ms能根据C和D（损耗系数*2）的测量值，进行被测物合格与否的判断对应测试线，比较器功能/触发输出功能3504-60/-50用BIN的分选接口进行被测物体的测试3504-40记录工具，实现高速/低成本的测试查出全机测量中的接触错误，提高成品率输入用探头/测试夹具，实体不附带。按照测量目的，不同型号有不同的探头/测试夹具选件基本参数测量参数Cs,Cp（电容）,D（损耗系数tanδ）测量范围C:0.9400pF～20.0000mFD:0.00001～1.99000基本精度（代表值）C:±0.09%rdg.±10dgt.,D:±0.0016※测定精度=基本精度×B×C×D×E,B～E为各系数测量频率120Hz,1kHz测量信号电平恒定电压模式:100mV(仅限3504-60)，500mV,1V测量范围:CV100mV:～170μF量程(测量频率1kHz),～1.45mF量程(测量频率120Hz)CV500mV:～170μF量程(测量频率1kHz),～1.45mF量程(测量频率120Hz)CV1V:～70μF量程(测量频率1kHz),～700μF量程(测量频率120Hz)输出电阻5Ω（CV测量范围以外的开路端子电压模式时）显示发光二级管（6位表示，满量程计算器根据量程而定）测量时间典型值:2.0ms（1kHz,FAST）※测量时间根据测量频率、测量速度的不同而不同功能BIN分类测量(3504-40除外),触发同步输出,测量条件记忆,测量值的比较功能,平均值功能,Low-C拒绝功能,振动功能,控制用输出输入(EXT.I/O),RS-232C接口（标配),GP-IB接口(3504-40除外)电源AC100/120/220/240V±10%（可选择）,50/60Hz,最大110VA体积及重量260W×100H×220Dmm,3.8kg附件电源线×1，预备电源保险丝×1，使用说明书×1
