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“射频测试探针台，高压检测探针测试台”参数说明
| 元器件种类： | 半导体器件测试仪 | 型号： | 根据客户要求定制 |
| 规格： | 根据客户要求定制 | 商标： | CINDBEST |
| 包装： | 木箱包装 | 外形尺寸： | 800*600*700 |
| 点针精度： | 10um-0.7um | 电流精度： | 100fa-10A |
| 产量： | 100 |
“射频测试探针台，高压检测探针测试台”详细介绍
8寸高端测试台产品简介:特点:此款适用于8寸以内的各种半导体器件的高精度测试。整体参数规格:重量：约80kg（带显微镜）设计：人性化的机学设计，便于操作工程师长时间舒适操作平台规格:C型设计，可以放置8-10个探针座平整度：5μm，使探针座的吸附更为稳固牢靠。平台可以上下升降，微调1微米精度Chuck(载物台)规格:尺寸：直径为8英寸的圆盘（约200MM）材质：SU316L不锈钢升级空间：镀金吸附孔：中心孔径最小可做到250μm，最小可以吸住尺寸为0.3mmX0.3mm，最大能够吸住尺寸为8"X8"旋转角度：可360度旋转，旋转角度可微调，微调精度为0.1度，带角度锁定旋钮Chuck升降：可以快速升降4MM，并且附带旋钮细微调节功能X-Y移动行程：移动范围为8"X8"，移动精度为1μm，配合针座的移动可以保证wafer上的die都能够准确点测到显微镜控制:在探针台本体的功能设计上增加了显微镜的气动升降，使在测试过程中更换物镜和样品更为方便，避免了会有碰伤样品和镜头的问题。
