“进场探头 XF1近场探头组 频率范围30MHz ~ 6GHz”参数说明
认证: | CE/UL/UE/CCC | 类型: | EMI进场测试探头 |
品牌: | LANGER EMV-Technik | 测量范围: | 30MHz ~ 6GHz |
电源电压: | AC:50/60Hz 1V-220V | 外形尺寸: | CE/UL/UE/CCC |
适用范围: | CE/UL/UE/CCC | 型号: | LANGER EMV-Technik |
规格: | LANGER EMV-Technik | 商标: | LANGER EMV-Technik |
包装: | 全新 |
“进场探头 XF1近场探头组 频率范围30MHz ~ 6GHz”详细介绍
特 性
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说 明
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类 型
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XF-R 400 – 1:直径约25mm,高灵敏度,低分辨率,可以距离被测物10cm使用,检测场的分布,用于磁场源定位,分析干扰源。
频率范围 30 MHz-6 GHz。
直径约25mm。
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XF-R 3 – 1:探头尺寸小,分辩率为毫米级。
在布线、IC管脚、旁路电容及EMC元件等区域,通过移动探头,可以检测磁场的分布和方向。
频率范围30MHz-6GHz。
分辨率约1 mm。
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RF-B 3-1:用于检测扁平单元表面垂直发射的磁场。
对于PCB有些有遮挡部分的电路,可能无法用XF-R 3 – 1测量场方向,这时可以使用RF-B3-1来测量。
频率范围30MHz-6GHz,分辨率约2mm。
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XF-U 2,5-1:用于有选择性地检测细小布线、元件连接处、电容器、IC管脚等的电流频谱。探头顶端有1个约0.5mm宽的磁场敏感的缺口,测试时将这个缺口放在布线、IC或电容器的连接点上。
频率范围30MHz-6GHz,分辨率约0.5mm。
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XF-E 10:探头的尖端仅有0.5 mm宽,用于测试信号线在其表面发射的电场。内部的屏蔽设计,能防止邻近导线对测试结果的影响,能对每根导线进行单独测量。
频率范围30MHz-6GHz,分辨率约0.2mm。
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多达19个各种形状的探头,可以完成几乎所有的电磁场测试任务;
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多种分辨率的探头,实现从粗略定位到精细定位
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低成本高性能;
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频率范围覆盖100kHz-10GHz;
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适用于检查机箱泄漏、PCB内部电磁场分布、电缆上的电磁场分布等;
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使用简单,携带方便。
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主要应用于查找干扰源,判定干扰产生的原因。
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可以检测器件或者是表面的磁场方向及强度。
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可以检测磁场耦合的通道,从而调整连接器或者是显示器位置
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可以检测PCB附近的磁场环境情况
为了降低干扰,寻找到真正的干扰源或者是其传播的途径是非常有必要的,通过近场测量可以很方便的实现定位的功能,甚至可以精确到IC引脚以及具体的走线。
详细情况请来电咨询: