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进场探头 XF1近场探头组 频率范围30MHz ~ 6GHz

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最后更新: 2017-12-17 23:27
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“进场探头 XF1近场探头组 频率范围30MHz ~ 6GHz”参数说明

认证: CE/UL/UE/CCC 类型: EMI进场测试探头
品牌: LANGER EMV-Technik 测量范围: 30MHz ~ 6GHz
电源电压: AC:50/60Hz 1V-220V 外形尺寸: CE/UL/UE/CCC
适用范围: CE/UL/UE/CCC 型号: LANGER EMV-Technik
规格: LANGER EMV-Technik 商标: LANGER EMV-Technik
包装: 全新

“进场探头 XF1近场探头组 频率范围30MHz ~ 6GHz”详细介绍

XF 1近场探头组 频率范围30MHz ~ 6GHz









XF1 近场探头组
频率范围30MHz ~ 6GHz
由4个磁场探头和1个电场探头组成
磁场探头 XF-R 400-1,XF-R 3 – 1,XF-B 3 – 1,XF-U 2,5 - 1
电场探头 XF-E 10,含SMA-SMA电缆
近场探头组XF 1各探棒介绍
特  性
说  明
类  型

XF-R 400 – 1:直径约25mm,高灵敏度,低分辨率,可以距离被测物10cm使用,检测场的分布,用于磁场源定位,分析干扰源。
频率范围 30 MHz-6 GHz。
直径约25mm。

XF-R 3 – 1:探头尺寸小,分辩率为毫米级。
在布线、IC管脚、旁路电容及EMC元件等区域,通过移动探头,可以检测磁场的分布和方向。
频率范围30MHz-6GHz。
分辨率约1 mm。
RF-B 3-1:用于检测扁平单元表面垂直发射的磁场。
对于PCB有些有遮挡部分的电路,可能无法用XF-R 3 – 1测量场方向,这时可以使用RF-B3-1来测量。
频率范围30MHz-6GHz,分辨率约2mm。

XF-U 2,5-1:用于有选择性地检测细小布线、元件连接处、电容器、IC管脚等的电流频谱。探头顶端有1个约0.5mm宽的磁场敏感的缺口,测试时将这个缺口放在布线、IC或电容器的连接点上。
频率范围30MHz-6GHz,分辨率约0.5mm。

XF-E 10:探头的尖端仅有0.5 mm宽,用于测试信号线在其表面发射的电场。内部的屏蔽设计,能防止邻近导线对测试结果的影响,能对每根导线进行单独测量。
频率范围30MHz-6GHz,分辨率约0.2mm。








德国LANGER EMV-Technik公司专门为近场测试设计的探头,电磁兼容工程师必备的最基本工具,用于在产品开发期间探测PCB的电磁场情况:
  • 多达19个各种形状的探头,可以完成几乎所有的电磁场测试任务;
  • 多种分辨率的探头,实现从粗略定位到精细定位
  • 低成本高性能;
  • 频率范围覆盖100kHz-10GHz;
  • 适用于检查机箱泄漏、PCB内部电磁场分布、电缆上的电磁场分布等;
  • 使用简单,携带方便。
近场探头的用途:
  • 主要应用于查找干扰源,判定干扰产生的原因。
  • 可以检测器件或者是表面的磁场方向及强度。
  • 可以检测磁场耦合的通道,从而调整连接器或者是显示器位置
  • 可以检测PCB附近的磁场环境情况

      为了降低干扰,寻找到真正的干扰源或者是其传播的途径是非常有必要的,通过近场测量可以很方便的实现定位的功能,甚至可以精确到IC引脚以及具体的走线。

详细情况请来电咨询:

深圳市元锋科技有限公司
Shenzhen Yuan Feng Technology Co., Ltd
地址:深圳市宝安区宝安大道3016号富星通大厦701
Address:701 Fu Xingtong Building, No. 3016 Baoan Avenue Bao'an District Shenzhen China
联系人:杨先生
电话:0139-26526199
手机:13926526199  
邮箱:yf@szyf518.com
网址:www.szyf518.com 

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